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J-Ras离子迁移试验装置 ECM-500
J-Ras离子迁移试验装置ECM-500
设备简介：
离子迁移实验装置是一种信赖性试验设备，原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压（BIAS VOLTAGE），
经过长时间的测试（1～1000 小时）并观察线路是否有瞬间短路的现象发生，并记录阻抗变化状况，故又
叫做 CAF 试验或绝缘电阻试验箱，或者是OPEN/SHORT试验，我们将其统称为绝缘劣化试验。
性能优势：
1.具备高、低电压测试自动切换功能，电压稳定，精度高（±〔0.3％(F.S.)+0.5〕V (计测偏压精度)）
2.各通道可以独立设定不同电压
3.每个通道均有电流过载保护，可保护设备及测试样品
4.模组化设计，轻便，占地小，易维护
5.TRIAXIAL三重隔离线设计，可有效屏蔽干扰信号
6.可以搭配恒温恒湿箱、快速温变箱（有湿度）、高加速试验箱HAST测试使用。
Specitications规格参数 项目 规格·性能·其他 框 型式 ECM-500/40-n (n:Channel数) ECM-500/100-n
(n:Channel数) 筐体型式 40CH 型(最大4计测组合) 100CH型 （最大10计测组合） 筐体寸法 265Wx330.3Dx405H(突起部除外) 417.4Wx330.3Dx405H(突起部除外) 计 计测电阻值范围 2kΩ~20TΩ 直流偏压输出 电压范围 2组范围 （1.0~50.0V,
50.5~500.0V） 最大输出电流 700ua/ch 可调度 0.05V（1～50V）、0.5V（50.5～500V） 直流偏压量测 计测范围 2组范围 （1~54V, 55~540V） 计测分解能 0.1V~（整数+小数点以下1行表示） 量测速度 50msec/CH 电流计测 计测能力 5组范围 （1000uA, 50uA,
2.5uA, 125nA, 6.25nA） 异常侦测能力 侦测速度 小于100us CPU 数据收录 试验制御单位 1 组 （5CH） 收录间隔（定期） 1分~60分
体
测
组
合
组
合
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