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COC测试机
产品简介：
COC测试机用于COC/COS封装形式的 DFB、EML、SOA 芯片的常温、高温下的 LIV 综合测试和光谱测试，支持 us 级直流/脉冲的输出与测试，该设备支持双工位测试、机械手全自动上下料。
产品特性：
弹匣式自动上下料，可装载20个COC鱼骨夹具，共640个COC
48/32位COC夹具同时适配于老化机和金线机
双平台设计，节约上下料和控温等待时间
TEC控温(20~100℃)，满足控温精度及稳定度
支持LIV和光谱测试
支持背光功率测试功能
技术参数：
类别 |
项目 |
指标 |
PIV |
输出电流范围 |
0~3000mA |
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输出电流精度 |
0.1%+100uA |
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扫描步长 |
10uA |
|
扫描时间 |
<4 ms/点 |
光谱 |
光路耦合时间 |
单模光纤<8s |
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光路耦合功率 |
> -20dBm (透镜+多模光纤) |
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波长重复性 |
±0.1nm |
|
光谱测试时间 |
<2s |
温度特性 |
控温方式 |
TEC |
|
控温范围 |
20~100℃ |
|
温度一致性 |
±1℃ |
|
温度稳定性 |
±0.5℃ |
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