算法应用，是AOI(自动光学检测仪)算法应用于检测领域的关键部分。AOI 具备20多种算法，每一种算法都有它的特别用途。所以在熟悉和理解各种AOI算法的基础上，使用AOI算法应用于各个检测项，是AOI工程师制作检测程序的前提。
错件，主要是用于检测元件本体的检测，检测该元件是否发生错料。该检测项是AOI检测的常规检测项。错件可采用四种检测算法，其四种检测算法分别为TOC算法、OCV算法、Match算法和OCR算法。每个错件的检测算法针对检测项目的偏重不一样。
TOC算法类的错件检测，主要用于非字符类元件的错件检测，该类元件主要为电容。该类检测法是通过抽取元件的本体色，判断元件本体色是否改变，来检测元件的错件。其中元件的本体色参数，无默认参数，是根据实际的本体色给出的色彩抽取参数。
OCV算法类的错件检测，主要用于清晰字符类的错件检测，该类元件主要为电阻。该类检测法是通过获取待测字符轮廓与标准字符的字符轮廓的拟合程度，来判断元件是否发生错件。该类检测的判定参数的默认范围为(0， 12)。如标准字符为“123”，待测字符为“351”，拟合返回值为28.3，判定范围为(0， 12)，则该元件发生“错件”。
Match类检测算法，主要是用于模糊字符类的错件检测，该类元件主要为二极管、三极管等。该类检测算法主要是通过获取待测字符区域与标准字符区域的相似程度，来判定元件是否发生“错件”。该类错件的判定范围默认为(0，32)。
OCR类检测算法，主要是用于重要部件的元件的检测，该类元件主要为BGA、QFP、BGA等。该类算法主要是通过识别待测字符，判定待测字符是否与标准字符一致来检测和判断是否发生错件。如标准字符为“123”，实际字符为“122”，则OCR算法判断该类元件发生“错件”。