• 发布日期：2025-12-12
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​HAST（Highly Accelerated Stress Test）非饱和高压加速老化试验箱是一种专为模拟产品在高温‑高湿‑高压极端环境下的长期使用状态而设计的环境试验设备。它通过在密闭容器内产生不饱和蒸汽（相对湿度≤85%），并在0.2–2.0 kg/cm²的压力下，对样品进行加速老化，从而在数百小时内完成传统85  ℃/85 %RH‑1000 h寿命试验的等效验证。

一、主要技术参数

1. 温度范围：105 ℃ - 147  ℃，温度波动≤±0.5 ℃；

2. 湿度范围：65 % - 100 %RH，波动≤±2.5 %RH；

3. 压力范围：0.2 - 2.0 kg/cm²；

4. 升温时间约50 min，升压时间约40 min；

二、核心优势

1. 高可靠性：进口耐高温电磁阀双路设计、独立蒸汽发生室以及多重安全保护（压力安全阀、过压、过热保护），显著降低故障率并保证试验安全。

2. 精准可控：触摸屏配合高精度控制系统，实现温度、湿度、压力的实时闭环调节，支持一键电子门锁、滑动托盘等人性化操作。

3. 广泛适用：适用于半导体芯片、IC封装、液晶显示、LED、磁性材料、稀土永磁体、航空航天材料以及电子元器件的密封性、耐压性和寿命评估。

4. 加速效能：在高压蒸汽环境下，水分渗透速率大幅提升，可在数十至数百小时内完成相当于数千小时常规湿热老化的加速测试，显著缩短研发周期。

三、典型应用案例

1. 半导体行业：对封装IC进行非饱和蒸汽偏压寿命测试，符合JESD22‑A102E、A110E等国际标准；

2. 新材料研发：评估稀土永磁体在高温高湿高压条件下的磁性能衰减；

3. 电子产品可靠性：检测多层线路板、LED灯具的防潮防压性能，确保出货前的质量合格率。