• 发布日期：2025-12-25
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​HAST（Highly Accelerated Stress Test）高温高压加速老化试验箱是一种专为电子器件、半导体封装、新材料等在极端湿热‑高压环境下进行寿命加速评估而设计的实验设备。其工作原理是利用密闭腔体内的饱和或非饱和蒸汽，在105 ℃‑147 ℃、相对湿度65 %‑100 %RH、压力0.2 kg/cm²‑2.0 kg/cm²的条件下，使水分在高温高压下渗透样品内部，依据阿伦尼乌斯模型快速放大腐蚀、绝缘劣化、金属氧化等失效机制，从而在数十至数百小时内模拟数千至上万小时的实际使用寿命。

HAST高温高压加速老化试验箱结构通常采用立式设计，内胆使用SUS 304/316 不锈钢板，外壳可选不锈钢或喷塑，内部保温层为岩棉＋硬质聚氨酯泡酯泡沫，蒸汽发生室配备钛管加热管和进口耐高温电磁阀，确保长期运行不生锈、无泄漏。控制系统采用彩色触控PLC，配备PT‑100白金温度传感器、指针式压力表以及PID自动调节算法，实现温度±0.5 ℃、湿度±3 %RH、压力±0.1 kg的高精度控制，并具备自动补水、超温、欠压、门锁安全保护等多重防护功能。
主要技术参数包括：设定温度100 ℃‑147 ℃（蒸汽温度），湿度60 %‑100 %RH，压力1.2 kg‑2.89 kg/cm²，升温约50 分钟、加压约45 分钟，时间范围0‑999 h，温度均匀度±2 ℃，湿度分布均度±3 %RH。箱体尺寸从Φ350×480 mm到Φ800×1000 mm不等，可根据样品体积灵活选型。
HAST试验箱广泛用于IC封装、LED、液晶屏、汽车电子、航空航天、国防等领域的可靠性验证，能够快速评估密封性能、耐压能力、材料老化趋势，满足GB/T 2423.40、IEC 60068‑2‑66、MIL‑STD‑810D等国内外标准。凭借高温‑高压‑高湿三要素的同步控制、快速升温升压以及精准的数据记录与U盘导出功能，HAST成为实现产品寿命加速验证、缩短研发周期、降低试验成本的关键仪器