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转塔式测试分选机,用于极小型半导体器件的测试,打标,分选,编带。
倒置的DDR伺服电机,铅垂设置的转轴,安装于转轴上的铝合金的旋转台,机架等组成,喂料机构,下料编带机构,控制其它各个部件动作的计算机等组成。另在旋转台的圆周上均布有多个可升降的柔性机械手,旋转台下面,机架大板上安装有多个工作位,每个工作位上部均具有凹腔。工作位具有上料位,多个测试位,旋转定位,废料检测分级,打标位,可扩展位和下料位。
处理速度快,检测分选效率高,对半导体器件损伤小,可以大规模用于极小型半导体器件的测试分选。
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