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低温箱是用来考核和确定电工、电子产品或材料在温度循环变化，产品表面产生低温环境条件下贮存和使用的适应性。那其技术参数是如何校验的呢？
低温箱技术参数校验
（1）温度校验及标定：先将温度计放入被校仪器内部中心位置，关闭箱门，启动被校仪器，把温度控制器调至指定值，当指示器显示到指定值时，打开箱门，查看并记录标准温度计的显示值。
（2）温度稳定性测定：先启动被校仪器，调整温度控制器至指定的修正控制温度范围内，待温度降至控制范围内后，观察并记录，在30分钟内控制器能否正常控制。
（3）降温时间测定：打开箱门，在常温下将试件装满被校仪器后关闭箱门，启动被校仪器，调整温度控制器至修正温度，同时用计时器计时，待温度降至－20℃时记录此时计时器的时间，此期间的时间即为降温时间。
低温箱性能指标
温度范围：-20℃~130℃/-40℃~130℃/-60℃~130℃/70℃~130℃
湿度范围：30~98% R?H
波动/均匀度：≤±0.5℃ /±2℃
温度偏差：+2%、-3%R?H

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