• 发布日期：2012-10-27
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对试验提供可靠性评价所采用的抽样方法与技术标准介绍

电子元器件常用的可靠性试验的分类方法很多。按试验目的来分，可分为可靠性鉴定试验、寿命试验、筛选试验、耐久性试验、可靠性增长试验。按实验地点来分，可分为现场试验和模拟试验（试验室试验）。按试验项目来分，则可分为环境试验、现场使用试验、特殊检测和寿命试验等。也有按所施加应力情况来区分的各种可靠性试验。

虽然可靠性试验门类很多，不同试验都能采集到不同的数据，但它们都反映了在不同阶段、不同考核对象的可靠性水平，是否达到了预定的可靠性指标。可靠性指标实际上就是可靠性试验的失效判据。采用不同的失效判据，其可靠性评价的结果就会不同。为了通过可靠性试验准确地对产品进行可靠性评价，除了要精确的确定失效判据外，还要注意正确的选用抽样方法和选用合适的技术标准。下面就是对失效判据、抽样方法和技术标准进行介绍。

失效判据

在进行可靠性试验前，首先要确定好失效判据。由于失效的判据不同，试验结果也会有不同，为此必须做出合理的失效定义（制定失效判据）。

失效一般分两种，即致命性失效和非致命性失效。致命性失效如断路、短路和严重丧失功能。非致命性失效如漂移失效（漏电流、互联线电阻增加、电源电压下降）。这将取决于退化的程度不同，失效形式也不同，把参数退化到什么程度判定为失效，即失效判据不同，可靠性试验的评价结果也会有明显的不同。所以，如何确定失效判据应该非常慎重。

确定失效判据一般有两种考虑，一是从满足工作电流，工作条件的角度来判定试验对象的容限值，二是从产品可靠性可以控制的角度来确定其极限值。对第一种情况，是使用方从对器件性能的需求来考虑的；对与第二种情况，则是生产方从器件中的失效物理出发，根据其失效模式，失效机理来确定失效判据。实际上，这两种考虑应该兼顾，在我们常用的各种技术标准中，都兼顾到了这两方面的考虑。

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