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新型电子元器件在当代的应用是越来越广泛,主要由电子元件业、半导体分立器件和集成电路业等部分组成。电子元器件是发展电子信息技术的基础。了解造成元器件失效的因素,以提高可靠性,是电子信息技术应用的必要保证。要了解电子元器件失效原因,需要采用一些先进的分析测试技术和仪器
1光学显微镜分析技术 2红外分析技术 3液晶热点检测技术 4微分析技术 5声学显微镜分析 6光辐射显微分析技术
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