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J-Ras离子迁移试验装置1000V 2000V 3000V
J-Ras离子迁移试验装置 1000V 2000V 3000V
设备简介：
HVUα-1000/2000/3000试验装置是J-RAS公司开发的一种高
电压的离子迁移试验设备，最高电压可达到4000V，广泛应用于
新能源、汽车电子、5G通讯等产品可靠性检测。
性能优势：
1.具备高、低电压测试自动切换功能，电压稳定，精度高（±〔0.3％(F.S.)+0.5〕V (计测偏压精度)）
2.各通道可以独立设定不同电压
3.每个通道均有电流过载保护，可保护设备及测试样品
4.模组化设计，轻便，占地小，易维护
5.TRIAXIAL三重隔离线设计，可有效屏蔽干扰信号
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Specitications规格参数 |
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硬体项目 |
规格·性能·其他 |
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HVUα-1000 |
HVUα-2000 |
HVUα-3000 |
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框 |
通道 |
5-50通道 |
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筐体寸法 |
410mm(W)×480mm(H)×324mm(D)(突起部除外) |
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重量 |
23KG（50通道） |
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性 |
电压范围 |
50-1000V |
50-2000V |
100-3000V |
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最大输出电流 |
About 1.4mA/CH |
About 600μA/CH |
About 400μA/CH |
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电压设定格式 |
1V为单位 |
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计测输入电压范围 |
50-1000V |
50-2000V |
100-3000V |
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计测电流范围 |
140nA/14uA/1.4mA |
60nA/6uA/600mA |
40nA/4uA/400mA |
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计测电阻范围 |
36kΩ~7.2TΩ |
83kΩ~33TΩ |
250kΩ~75TΩ |
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输出电压格式 |
5通道独立显示电压，单独控制开/关 |
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软体 |
计测电阻范围 |
2.5K-75TΩ（最高4PΩ）/最大通道数 200通道（50CH通道一组，共4组） |
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扫描速度 |
最大 50msec/通道 |
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测试时间 |
1min-10000H |
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数据收录间隔 |
1-60min（可以任意1min为定期） |
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